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技术指标：徕卡DMILM倒置金相显微镜的技术参数：1、光学系统：HSC无限远校正，明场，偏光。2、目镜:10X；可选购12.5X,16X,25X(视野18mm,20mm)3、物镜:1.25X；5X；10X；20X；50X；100X；25...
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技术指标：最小分辨率1um。配备明视场、暗视场。配备平场复消色差物镜：5X、10X、20X、50X、100X；目镜：10X。附带辅助对焦系统。仪器用途：用于对电子产品及零件的几何尺寸进行测量。收费标...
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技术指标：二次电子分辨率:1.0nm(15kV);2.0nm(1kV)背散射电子分辨率:3.0nm(15kV)电子枪:冷场发射电子源加速电压:0.5~30kV（0.1kV/步，可变）放大倍率:×30~×800,000。X射线...
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技术指标：TEM主要用于分析在光学显微镜下无法看清的细微结构（小于200nm），在新材料的研究和应用中具有非常重要的作用。在材料科学（成分以及结构分析）以及生命科学（保真性、生化物质定位等...
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技术指标：/仪器用途：干细胞的观察和拍照收费标准：/机组负责人：胡祥 052386201923 /
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技术指标：/仪器用途：化合物晶型研究收费标准：待定机组负责人：杨大俊 052386201369 /
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技术指标：/仪器用途：分析研究和表征材料显微组织、低倍组织和断口组织收费标准：200元/样机组负责人：王冬生 0523-83220882 /...
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技术指标：仪器用途：显微组织收费标准：/机组负责人：蒋日勤 0523-80956879 www.xingda.com.cn
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技术指标：仪器用途：表面质量收费标准：80元/样品机组负责人：蒋日勤 0523-80956879 xd@xingda.com.cn
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技术指标：仪器用途：显微组织收费标准：150元/样品机组负责人：蒋日勤 052380956879 xd@xingda.com.cn
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技术指标：仪器用途：非含水分样品表面形貌收费标准：500元、样品机组负责人：蒋日勤 0523-80956879 xd@xingda.com.cn
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技术指标：仪器用途：尺寸测量收费标准：无机组负责人：左公政 0523-80765126 service@jsgys.com
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技术指标：分辨率：0.8nm@15kV1.6nm@1kV加速电压：0.02-30kV放大倍数：12-1,000,000X探针电流：4pA～20nA稳定性:优于0.2%/h工作室：330mm(φ）270mm(h)5轴载物台：X=130m...
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技术指标：正立式，放大倍数50倍-----1000倍，明暗场。相对误差小于0.1%.仪器用途：用于分析材料的金相组织收费标准：面议机组负责人：孟祥国 0519-81689893 hengli@h...
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技术指标：仪器用途：适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构。收费标准：面谈机组负责人：何仁玲 0519-...
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技术指标：1.测量模式：原子力显微镜(AFM：接触模式、轻敲模式、抬起模式)，导电AFM（CAFM），横向力/摩擦力显微镜（LFM），磁力显微镜（MFM），静电力显微镜（EFM），纳米刻蚀，液体环境测试...
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技术指标：1.分辨率：0.1nm2.最大扫描范围：2μm3.工作电压：-2V~2V4.工作温度：室温仪器用途：用于观察样品表面形貌，适用于石墨、金等。收费标准：详见研究院网站机组负责...
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技术指标：6.7～45X连续变倍，300万像素仪器用途：金属材料的金相组织分析收费标准：350元/样品，包括制样机组负责人：韩逸 0512-88856632 szsyjc@163.com...
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技术指标：扫描范围：90um*90um*10um开环X-Y方向噪音小于0.1nm闭环X-Y方向噪音小于0.15nm开环Z方向噪音小于0.03nm闭环Z方向噪音小于0.035nm仪器用途：可对聚合物、半导体材料和生...
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技术指标：放大倍数：50×、100×、200×、500×、1000×524万像素2/3"CCD仪器用途：金属材料的金相组织分析及晶粒度测试收费标准：350元/样品，包括制样机组负责人：韩逸 0512...
