检测认证人脉交流通讯录
- 仪器名称：扫描电子显微镜/X射线能谱仪（SEM/EDS）
- 价格型号：日本日立S-4800
- 仪器分类：X射线能谱仪
- 应用领域：
- 所属单位：禾川化学
- 所在地点：
- 产 地：
- 产 商：日本日立
- 价 值：0
- 购置日期：0000-00-00
技术指标：二次电子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV) 背散射电子分辨率:3.0 nm(15 kV) 电子枪:冷场发射电子源 加速电压:0.5~30 kV（0.1 kV/步，可变） 放大倍率:×30 ~ ×800,000。 X射线能谱仪的元素分析范围为Be4~U92。
仪器用途：用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下： 金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察； 材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定； 金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定； 纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析 ； 进行材料表面微区成分的定性和定量分析。
收费标准：电议
机组负责人：刘工 0512－80968411 hechuanjishu@hechuanchem.com
