检测认证人脉交流通讯录
- F20-XT经济型高级膜厚测试仪,膜厚仪，薄膜测厚仪（北京，上海，深圳，成都，西安均有办事处提供服务） 主要用于测试各种透明半透明的膜厚. 产品简介： 1 是在F20-NIR的基础上专为测试厚膜而设计的，波长范围从1200nm到1450nm，在NIR波长分辨率为 0.5nm； 2 薄膜厚度的测量范围是：0.2～ 450um（低光学参数薄膜），0.1～160um（Si及其它半导体），精度都好于0.4%。 应用领域 : 1 微机电系统MEMS； 2 绝缘体上硅SOI； 3 倒装芯片Flip Chips； 4 厚聚合物 。
