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F50透明/半透明膜膜厚测试仪

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    • F50透明/半透明膜膜厚测试仪,膜厚仪,薄膜测厚仪(北京,上海,深圳,成都,西安均有办事处提供服务) 主要用于测试各种透明半透明的膜厚。 产品简介: 1 F50 配备全自动R-θ和 X-Y工作台,有 200mm和300mm两种型号可供选择,客户也可提供所需尺寸。测量速率高达2点/秒,通过快速扫描功能,可取得整片样品的厚度分布情况以及光学参数(n 、k),有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm) ; 2 测量的薄膜厚度范围从10nm到450um,最高精度为 0.1nm 。 主要特点: 1 操作简单、使用方便; 2 测量快速、准确; 3 体积小、重量轻; 4 价格便宜。 应用领域: 1 半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物; 2 LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides; 3 光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片;

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