检测认证人脉交流通讯录
- F30透明/半透明膜膜厚测试仪，膜厚仪，薄膜测厚仪（北京，上海，深圳，成都，西安均有办事处提供服务） 主要用于测试各种透明半透明的膜厚。 产品简介： *是监测薄膜沉积的最有效工具，可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口，实时监控长晶速度，实时测量膜厚、 n 、 k 值以及半导体和绝缘体涂层的均匀性。可加装三个探头，同时测量三个样品，有三种不同波长选择 ( 波长范围从可见光 400nm 至近红外1700nm)； *测量的薄膜厚度范围从 15nm 到 250um； *测量精度优于1% 。 主要特点： *测量精度高，优于 1% ； *测量速度快，几秒钟内可完成测量； *整套设备可放置在沉积室外； *操作简单，使用方便； *价格便宜 应用领域: *分子束外延MBE； *金属有机物化学气相沉积MOCVD； *材料研究； *光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片。
