这真不是您需要的服务?
芯片ESD/EOS测试(HBM、MM、CDM、LU)
EOS/ESD造成的客退情形不曾间断,IC过电压承受能力较低,产品就有损坏风险。
对成品厂商而言,除了要求IC供货商测试到所要求的ESD防护等级,对于所选用的IC,其承受EOS的能力也更加关注。
GRGT技术服务
广电计量(GRGT)能协助您进行测试 ,提供Test to Fail的验证与失效模式报告。藉此了解芯片组件脆弱点与静电承受度,作为您后续系统设计、芯片电路设计调整、甚至后续RMA失效分析的依据。
GRGT服务优势
参考规范
MIL-STD(美国军规标准)
EIA/JEDEC(固态技术协会规范)
AEC(汽车电子协会规范)
IEC(国际电工委员会)
JEITA(日本静电防护规章)
IC ESD参考 规 范 |
MIL-STD |
JEDEC |
AECQ |
Other |
HBM (Human Body Mode) |
MIL-STD-883 |
JESD22-A114 |
AEC-Q100-002 |
|
MM (Machine Mode) |
|
JESD22-A115 |
AEC-Q100-003 |
|
SCDM (Socket CDM) |
|
|
|
ANSI/ESD SP5.3.2 |
CDM (Non-Socket) |
|
JS002-2018 |
AEC-Q100-011 |
EIA/ESDA-5.3.1 |
Latch-Up参考 规 范 |
MIL-STD |
JEDEC |
AECQ |
Other |
Room Temp. Test |
|
JESD-78 |
|
|
High Temp. Test |
|
JESD-78 |
AEC-Q100-004 |
|
System ESD参考 规 范 |
MIL-STD |
JEDEC |
AECQ |
Other |
HBM (Human Body Mode) |
|
|
AEC-Q200-002 |
IEC61000-4-2 |
公司简介:
广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)是原信息产业部电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、元器件筛选与失效分析检测、车规元器件认证测试、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平。
GRGT目前具有以下芯片相关测试能力及技术服务能力:
芯片可靠性验证 ( RA):
芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;
高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ;
温度循环试验(TC), JESD22-A104 ;
温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ;
高加速应力试验(HTSL / HAST), JESD22-A110;
高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108;
芯片静电测试 ( ESD):
人体放电模式测试(HBM), JS001 ;
元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ;
闩锁测试(LU), JESD78 ;
TLP;Surge / EOS / EFT;
芯片IC失效分析 ( FA):
光学检查(VI/OM) ;
扫描电镜检查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs);
OBIRCH ;Micro-probe;
聚焦离子束微观分析(FIB);
弹坑试验(cratering) ;芯片开封(decap) ;
芯片去层(delayer);晶格缺陷试验(化学法);
PN结染色 / 码染色试验;
推拉力测试(WBP/WBS);红墨水试验:
PCBA切片分析(X-section);
芯片材料分析:
高分辨TEM (形貌、膜厚测量、电子衍射、STEM、HAADF);
SEM (形貌观察、截面观察、膜厚测量、EBSD);
Raman (Raman光谱);AFM (微观表面形貌分析、台阶测量);
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芯片检测业务:
李绍政 13808840060;020-66837067
lisz@grgtest.com