军用电子元器件筛选    

      广电计量检测股份有限公司（广电计量）从1964年开始从事计量检定工作，是原信息产业部电子602计量站，历经五十余年的技术 沉淀，持续变革创新，实现跨越式发展，成长为一家全国性、综合化、军民融合的国有第三方计量检测机构，专业提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和 产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“军G四证”等政府和⾏业众多权威机构的认可资质。 

       依据各⾏业及领域客户的需求，广电计量精⼼打造出涵盖计量校准、可靠性与环境试验、元器件筛选与失效分析、电磁兼容 检测、化学分析、食品农产品检测、环保检测、产品认证、技术咨询与培训、质检⾏业信息化系统开发、测控产品研发的⼀站式计量检测技术服务和产品，贯穿企业品质管控全过程。

       广电计量可靠性与环境试验*具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力，可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。

业务联系：李经理

电话/微信 138-0884-0060

邮箱：lisz@grgtest.com

元器件筛选的目的：

1. 剔除早起失效产品。
2. 提高产品批次使用的可靠性。

元器件筛选的特点：

• 筛选试验为非破坏性试验。
• 不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。
• 对批次产品进行*筛选。
• 筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。

元器件筛选测试项目：

1. 检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、 X射线非破坏性检查。
2. 密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示 踪检漏、湿度试验。
3. 环境应⼒筛选：高低温贮存、高温反偏、振动、冲击、离⼼加速度、温度冲击、综合应⼒。 

元器件筛选覆盖范围：

• 半导体集成电路：时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、致模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;
• 半导体分立器件∶二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;
• 电阻器;电容器;磁珠;电感器;变压器;晶体振荡器;晶体谐报器;继电器;电连接器;开关及面板元件;滤波器;电源模块等。

覆盖标准 ：

• GJB 7243-2011JY电子元器件筛选技术要求；
• GJB128A-97半导体分立器件试验方法；
• GJB 360A-96 电子及电⽓元件试验方法；
• GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 ；
• GJB 40247A-2006 军Y电子元器件破坏性物理分析方法；
• QJ 10003—2008 进⼝元器件筛选指南；
• MIL-STD-750D 半导体分立器件试验方法；
• MIL-STD-883G；

我们的设备能力：
1.老炼需要的设备：

• 集成电路高温动态老炼系统、混合集成电路高温动态老炼系统、
• 电源模块高温老炼检测系统、分立器件综合老炼检测系统、
• 分立器件间歇寿命试验系统、电容器高温老炼检测系统、
• 继电器低电平寿命筛选系统、电容高温反偏老炼系统、
• 二极管恒流老炼系统。

2.电测试需要的设备：

• 阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数分析仪、
• 高精度图示仪、可编程电源、电子负载、示波器
• 频谱分析仪。

3.目检、外观检查需要设备：

• 光学显微镜、金相显微镜。

4.理化检测能力覆盖：

• 外观检测、内部无损检测、密封性测试、内部缺陷测试。