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广州广电计量检测股份有限公司

检测认证人脉交流通讯录
  • IGBT功率半导体动态参数、静态参数测试,专业测试机构

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  • 对应法规:IGBT功率半导体测试
    CNAS认可项目:是
  • IGBT功率半导体动态参数、静态参数测试

          功率器件在新能源汽车、智能电网等领域有广泛应用,其中,IGBT技术瓶颈不断被打破,第三代半导体功率器件也开始由实验室阶段步入商业应用。通常这些新型器件测试要求更高的电压和功率水平,更快的开关时间,对测试设备及人员技术要求高,在研发时间与成本的双重压力下,全参数测试成为不少制造商的难题。

    解决方案

          广电计量(GRGT)积极布局新型IGBT及第三代半导体功率器件的测试业务,引进国际先进的测试技术,为功率半导体产业上下游企业提供器件全参数检测服务。同时,广电计量通过构筑检测认证与分析一体化平台,为客户提供器件可靠性验证及失效分析,帮助客户分析失效机理,指导产品设计及工艺改进。

    IGBT试验项目

    静态参数:BVDSS IDSS、IGSSVGSth)、 RDS(on)、VvDSoni VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、s、Vespl);

    动态参数:td(on)、tr、tdof)、tf、Eon Eoff、tr、Qrr、Irm、dirr/dt、QG、QGC、QGE…

    其他参数:Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOR…

    覆盖标准

    ·AEC-Q101分立器件认证

    ·MIL-STD-750半导体器件试验方法

    ·IEC60747系列Semiconductor Devices, Discrete Devices

    ·GB/T29332半导体器件-分立器件-第9部分∶绝缘棚双极晶体管(GBT)

    ·AQG324功率模块车规认证


    IGBT参数测试业务联系人:李经理 138 0884 0060

    lisz@grgtest.com


    参数

    符号

    范围

    Input capacitance

    Cies

    100fF~1uF

    Output capacitance

    Coes

    100fF~1uF

    Reverse transfer capacitance

    Cres

    100fF~1uF

    Total gate charge

    QG

    1nC~100uC

    Gate-Emitter charge

    QGC

    1nC~100uC

    Gate-Collector charge

    QGE

    1nC~100uC

    Turn-on delay time

    td(on)

    10-10000ns

    Rise time

    tr

    10-10000ns

    Turn-off delay time

    td(off)

    10-10000ns

    Fall time

    tf

    10-10000ns

    参数

    符号

    范围

    Turn-on energy

    Eon

    1-10000mJ

    Turn-off energy

    Eoff

    1-10000mJ

    Diode reverse recovery time

    trr

    10-10000ns

    Diode reverse recovery charge

    Qrr

    MAX  10000nC

    Diode peak reverse recovery current

    Irrm

    1A~2000A

    Diode peak rate of fall of reverse

    recovery current

    dirr/dt

    10-50000A/us

    Reverse biased safe operating area

    RBSOA

    /

    Short circuit safe operation area

    SCSOA

    MAX 5000A

     


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