军用电子元器件二次筛选

      电⼦元器件筛选和破坏性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及时发现假冒翻新元器件的有效⼿段。

       电⼦元器件筛选是通过⼀系列短期环境应⼒加速试验及测试技术，对整批电⼦元器件进⾏全批次⾮破坏性试验，挑选出具有特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收，提⾼产品使⽤可靠性。

业务联系信息：

李经理：138 0884 0060；邮箱：lisz@grgtest.com

元器件筛选的目的：

1. 剔除早起失效产品。

2. 提高产品批次使用的可靠性。

元器件筛选的特点：

1. 筛选试验为非破坏性试验。

2. 不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。

3. 对批次产品进行100%筛选。

4. 筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。

二次筛选测试项目：

1.检查筛选：显微镜检查、红外线⾮破坏检查、

X射线⾮破坏性检查。

2.密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性⽰

踪检漏、湿度试验。

3.环境应⼒筛选：振动、冲击、离⼼加速度、温度

冲击、综合应⼒。

元器件筛选覆盖范围：

元件类：电阻、电容、电感、敏感元件、磁性元件、滤波器、晶体振荡器。

器件类：光电耦合器、二极管、晶体管、集成电路。

机电类：继电器、开关。

线缆类：连接器、电线电缆。

我们的设备能力：

1.老炼需要的设备：

• 集成电路高温动态老炼系统、混合集成电路高温动态老炼系统
• 电源模块高温老炼检测系统、分立器件综合老炼检测系统
• 分立器件间歇寿命试验系统、电容器高温老炼检测系统
• 继电器低电平寿命筛选系统、电容高温反偏老炼系统
• 二极管恒流老炼系统

2.电测试需要的设备：

• 阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数分析仪
• 高精度图示仪、可编程电源、电子负载、示波器
• 频谱分析仪。

3.目检、外观检查需要设备：

• 光学显微镜、金相显微镜。

4.理化检测能力覆盖：

• 外观检测、内部无损检测、密封性测试、内部缺陷测试。

覆盖标准 ：

GJB
128A-97

半导体分⽴器件试验⽅法

GJB 360A-96 电⼦及电⽓元件试验⽅法

GJB 548B-2005 微电⼦器件试验⽅法和程序

GJB 7243-2011
军⽤电⼦元器件筛选技术要求

GJB 40247A-2006 军⽤电⼦元器件破坏性物理分析⽅法

QJ 10003—2008 进⼝元器件筛选指南

MIL-STD-750D 半导体分⽴器件试验⽅法

MIL-STD-883G

      ⼴电计量从1964年开始从事计量检定⼯作，是原信息产业部电⼦602计量站，历经五⼗余年的技术 沉淀，持续变⾰创新，实现跨越式发展，成⻓为⼀家全国性、综合化、军⺠融合的国有第三⽅计量检测机构，专业提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和 产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“军⼯四证”等政府和⾏业众多权威机构的认可资质。

      依据各⾏业及领域客⼾的需求，⼴电计量精⼼打造出涵盖计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容 检测、化学分析、⻝品农产品检测、环保检测、产品认证、技术咨询与培训、质检⾏业信息化系统开发、测控产品研发的⼀站式计量检测技术服务和产品，贯穿企业品质管控全过程。