汽车芯片车规级认证：AEC-Q100

AEC-Q100认证是什么

      AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q100的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。

      如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q100 认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q100 认证。

Tier 1 : OEM车用模块/系统厂, 车用电子组件的End-User.

     Continental / Delphi / Johnson Con / Autoliv / Visteon… 

Tier 2 : 使用/制造车用电子组件的厂商, 车用电子组件的Supplier.

     Altera / Analog Devices / Fairchild / Freescale / Infineon / NXP 

     / ON semi. / NS / Maxim / TI / Xilinx…

Tier 3 : 提供支持与服务给予电子行业, 车用电子的外包商.

      TSMC / GSMC… 

Q100 : 主动组件包含 Single / Multi / Hybrid / Package / Un-Package / Mount on substrate…

Q101 : 离散组件 包含 MOSFET / Diode / LED…

Q200 : 被动组件 包括 Capacitor / Resistor / Crystal… 

Q001~Q005 生产支持è设计/制造/测试以上组件的H/W & S/W生产系统的参考.  

AECQ100认证测试周期：

     3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

AECQ100认证测试地点：

     广电计量广州总部试验室、广电计量上海试验室。

AECQ100认证业务咨询：

     GRGT李经理 138 0884 0060；邮箱：lisz@grgtest.com

资料准备：

      芯片DataSheet、POD等设计资料。

具体测试项目如下：