芯片ATE程序开发

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      芯片FT测试（Final Test 简称FT）是指芯片在封装完成后以及在芯片成品完成可靠性验证后对芯片进行测功能验证、电参数测试。主要的测试依据是集成电路规范、芯片规格书、用户手册。

     目前芯片FT测试主要用到ATE测试系统，包括软件和测试设备、测试硬件。ATE是Automatic Test Equipment的缩写， 于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机， 用于检测集成电路功能之完整性， 为集成电路生产制造之最后流程， 以确保集成电路生产制造之品质。

ATE测试主要测试项目如下：

• Open/Short test: 检查芯片引脚中是否有开路或短路。 
• Function test: 测试芯片的逻辑功能。 
• DC test: 验证器件直流电流和电压参数。 
• AC test: 验证交流规格，包括交流输出信号的质量和信号时序参数。 
•  Eflash test: 测试内嵌flash的功能及性能，包含读写擦除动作及功耗和速度等各种参数。 
• Mixed Signal test: 验证DUT数模混合电路的功能及性能参数。 
• RF test: 测试芯片里面RF模块的功能及性能参数。

ATE程序开发：

测试方案开发

测试程序开发

三温环境开发

测试硬件开发

测试技术支持

筛选技术支持

GRGT测试技术开发团队：

测试技术带头人拥有十几年 J 民两域的从业经验 

测试技术核心成员均来自国内著名芯片设计公司

项目开发经验丰富

熟悉产业链

      广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息产业部电子602计量站，经过50余年的发展，现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构，专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务，在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测、元器件筛选与失效分析、芯片测试等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平。