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广州广电计量检测股份有限公司

检测认证人脉交流通讯录
  • 【广电计量检测】汽车多芯片模块车规AEC-Q104认证;芯片可靠性验证

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  • 对应法规:AEC-Q104
    CNAS认可项目:是
  • 汽车多芯片模块车规AEC-Q104认证

     

    AEC-Q104

          AEC-Q104对大规模集成电路芯片IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q104的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。

          如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果,那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商,可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些,但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104 认证。

    Tier 1 : OEM车用模块/系统厂, 车用电子组件的End-User.

         Continental / Delphi / Johnson Con / Autoliv / Visteon… 

    Tier 2 : 使用/制造车用电子组件的厂商, 车用电子组件的Supplier.

         Altera / Analog Devices / Fairchild / Freescale / Infineon / NXP 

         / ON semi. / NS / Maxim / TI / Xilinx…

    Tier 3 : 提供支持与服务给予电子行业, 车用电子的外包商.

          TSMC / GSMC… 

    AEC-Q104认证测试周期

    3-4个月,提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

    AEC-Q100认证测试地点:

    广电计量广州总部、广电计量上海试验室。

     

    GRGT芯片测试能力:

    芯片可靠性验证 ( RA)

    芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;

    高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ;

    温度循环试验(TC), JESD22-A104 ;

    温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ;

    高加速应力试验(HTST / HAST), JESD22-A110; 

    高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108; 

     

    芯片静电测试 ( ESD):

    人体放电模式测试(HBM), JS001 ;

    元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ;

    闩锁测试(LU), JESD78 ;

    芯片IC失效分析 ( FA): 

    光学检查(VI/OM) ;

    扫描电镜检查(FIB/SEM) 

    微光分析定位(EMMI/InGaAs);

    OBIRCH ;

    Micro-probe;

    聚焦离子束微观分析(FIB) ;

    弹坑试验(cratering) ;

    芯片开封(decap) ;

    芯片去层(delayer);

    晶格缺陷试验(化学法);

    PN结染色 / 码染色试验;

    推拉力测试(WBP/WBS);

    红墨水试验;

    PCBA切片分析(X-section);

    芯片材料分析

    高分辨TEM (形貌、膜厚测量、电子衍射、STEM、HAADF);

    SEM (形貌观察、截面观察、膜厚测量、EBSD);

    Raman (Raman光谱);

    AFM (微观表面形貌分析、台阶测量);

     


         广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

    AEC-Q104认证测试业务咨询及技术交流:

    GRGT李工 138-0884-0060;

    lisz@grgtest . com


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