电子元器件失效分析

       失效分析是加快电子元器件研制速度、提高元器件和整机成批量和可靠性的重要途径。通过失效分析，元器件生产商可改进 元器件的设计和工艺，整机⼚可改进电路板设计，提升元器件和整机的测试和使用环境。

      广电计量检测（GRGT）深耕军用电子元器件的失效分析与故障归零，为军用元器件、电机/机电部件、金属结构件失效能⼒提供系统的失效分析，能⼒涵盖器件设计、制造工艺、试验或应用等各阶段。

服务内容 

形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。

成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、⾊谱、质谱。

电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。

开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切⽚。

缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。

服务对象 

电子元件、分⽴器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件、微波器件、电源类...

覆盖标准 

GJB 33A-1997半导体分立器件总规范；

GJB 65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范；

GJB 450A装备可靠性工作通用要求；

GJB 536B-2011电子元器件质量保证大纲；

GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序；

GJB 597A-1996半导体集成电路总规范；

GJB 841故障报告、分析和纠正系统；

       广电计量从1964年开始从事计量检定工作，是原信息产业部电子602计量站，历经五十余年的技术 沉淀，持续变革创新，实现跨越式发展，成长为⼀家全国性、综合化、军民融合的国有第三⽅计量检测机构，专业提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和 产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“军工四证”等政府和⾏业众多权威机构的认可资质。

       依据各⾏业及领域客户的需求，广电计量精⼼打造出涵盖计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容 检测、化学分析、食品农产品检测、环保检测、产品认证、技术咨询与培训、质检⾏业信息化系统开发、测控产品研发的⼀站式计量检测技术服务和产品，贯穿企业品质管控全过程。

业务联系信息：

李经理：138 0884 0060；邮箱：lisz@grgtest.com