汽车芯片模组车规AEC-Q104认证

AEC-Q104

       AEC-Q104对大规模集成电路芯片IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q104的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。

      如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104 认证。

Tier 1 : OEM车用模块/系统厂, 车用电子组件的End-User.

     Continental / Delphi / Johnson Con / Autoliv / Visteon…

Tier 2 : 使用/制造车用电子组件的厂商, 车用电子组件的Supplier.

     Altera / Analog Devices / Fairchild / Freescale / Infineon / NXP

     / ON semi. / NS / Maxim / TI / Xilinx…

Tier 3 : 提供支持与服务给予电子行业, 车用电子的外包商.

      TSMC / GSMC…

Q100 : 主动组件包含 Single / Multi / Hybrid / Package / Un-Package / Mount on substrate…

Q101 : 离散组件 包含 MOSFET / Diode / LED…

Q200 : 被动组件 包括 Capacitor / Resistor / Crystal…

Q001~Q005 生产支持è设计/制造/测试以上组件的H/W & S/W生产系统的参考.  

AECQ104认证测试周期：

3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

AECQ100认证测试地点：

广电计量广州总部、广电计量上海试验室。

GRGT芯片测试能力：

芯片可靠性验证 ( RA)

芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ；

温度循环试验(TC), JESD22-A104 ；

温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速应力试验(HTST / HAST), JESD22-A110；

高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108；

芯片静电测试 ( ESD)：

人体放电模式测试(HBM), JS001 ；

元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ；

闩锁测试(LU), JESD78 ；

芯片IC失效分析 ( FA)： 

光学检查(VI/OM) ；扫描电镜检查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；OBIRCH ；

Micro-probe;聚焦离子束微观分析(FIB) ；

弹坑试验(cratering) ；芯片开封(decap) ；

芯片去层(delayer)；晶格缺陷试验(化学法)；

PN结染色 / 码染色试验；推拉力测试(WBP/WBS)；

红墨水试验；PCBA切片分析(X-section)；

芯片材料分析：

高分辨TEM (形貌、膜厚测量、电子衍射、STEM、HAADF)；

SEM (形貌观察、截面观察、膜厚测量、EBSD)；

Raman (Raman光谱)；AFM (微观表面形貌分析、台阶测量)；

AEC-Q试验后元器件失效分析项目：

① 形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。

② 成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。

③ 电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。

④ 开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。

⑤ 缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。

       广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

大规模芯片（IC）AEC-Q104认证测试业务咨询及技术交流：

GRGT李工 138-0884-0060；

lisz@grgtest . com