广州深圳东莞元器件失效分析可靠性技术培训
培训费用：3200元／人（含资料费、培训费、午餐）
参训对象：电子产品（组件及电子设备）制造行业的设计人员、可靠性试验评价、设计评审和故障分析人员。
培训咨询：刘老师  135 3525 2707，QQ咨询：1327 6425,email:liuxian@grgtest.com
培训地点：全国定期开班，欢迎咨询
一. 元器件的常见的失效模式及预防对策
① 阻容元件常见的失效模式及预防对策案例②二极管三极管常见的失效模式及预防对策案例③机电元件常见的失效模式及预防对策案例④集成电路常见的失效模式及预防对策案例⑤防浪涌设计案例⑥防闩锁设计案例⑦ESD防护案例
六. 可靠性试验
1. 可靠性试验及其分类
2. 可靠性测定试验
点估计 区间估计
3. 可靠性鉴定试验
2.1 试验大纲
2.2 试验条件
2.3 试验样品
2.4 一次抽样检验方案的基本原理
2.5 案例分析
4. HALT/HASS试验
1) HALT和HASS的概念与应用范围 
2) 高加速的基本原理 
3) HALT/HASS试验过程及方法 
4) 开展HALT和HASS的几点看法
5. 可靠性增长实验
6. 加速寿命实验
5.1 寿命试验的分类 
5.2 寿命试验的测试点 
5.3 寿命试验的数据处理
5.4 加速寿命试验的理论依据
5.5 加速应力的选择