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钢中非金属夹杂物含量的测定标准评级图显微检验法GB/T 10561－2005,钢中非金属夹杂物含量的测定标准评级图显微检验法GB/T 10561－2005
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金属和氧化物覆盖层 厚度测量显微镜法GB/T 6462－2005,金属和氧化物覆盖层 厚度测量显微镜法GB/T 6462－2005
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钢产品镀锌层质量试验方法GB/T1839-2008,钢产品镀锌层质量试验方法GB/T1839-2008
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粒度分析激光衍射法GB/T19077.1-2008,粒度分析激光衍射法GB/T19077.1-2008
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金属表面比表面积的测定氮吸附法GB/T13390-2008,金属表面比表面积的测定氮吸附法GB/T13390-2008
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金属粉末--有效密度的测定--液体浸透法GB5161-1985,金属粉末--有效密度的测定--液体浸透法GB5161-1985
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金属粉末松装密度的测定第一部分：漏斗法GB1479-1984,金属粉末松装密度的测定第一部分：漏斗法GB/T1479.1-2011
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金属粉末流动性的测定标准漏斗法（霍尔流速计）GB1482-1984,金属粉末流动性的测定标准漏斗法（霍尔流速计）GB/T1482-2010
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金属粉末振实密度的测定GB/T5162-2006,金属粉末振实密度的测定GB/T5162-2006
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刚玉磨料中α-Al2O3相X射线定量测定方法GB/T14321-2008
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四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则JY/T008-1996,四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则JY/T008-1996...
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转靶多晶体X射线衍射法通则JY/T009-1996,转靶多晶体X射线衍射法通则JY/T009-1996
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粉末衍射国际标准卡PDF-21-47,粉末衍射国际标准卡PDF-21-47
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眼镜架通用要求和试验方法GB/T14214-20039.7,眼镜架通用要求和试验方法GB/T14214-20039.7
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硅多晶气氛区熔磷检验方法GB/T4059-2007,硅多晶真空区熔基硼检验方法GB/T4060-2007,硅多晶气氛区熔磷检验方法GB/T4059-2007,硅多晶真空区熔基硼检验方法GB/T4060-2007...
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硅单晶电阻率测定方法GB/T1551-2009,硅单晶电阻率测定方法GB/T1551-2009
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硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法GB/T14144-2009,硅中代（替）位碳原子含量红外吸收测量方法GB/T1558-2009,硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法GB/T1557-2006,硅晶体中间隙氧含量径向变...
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硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法GB/T1554-2009,硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法GB/T1554-2009
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非本征半导体材料导电类型测试方法GB/T1550-1997,非本征半导体材料导电类型测试方法GB/T1550-1997
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半导体单晶晶向测定方法GB/T1555-2009,硅片参考面结晶学取向X射线测量方法GB/T13388-2009,半导体单晶晶向测定方法GB/T1555-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法GB/T13388-2009...
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