检测认证人脉交流通讯录
- 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 美国CalMetrics标准片通用于各大品牌镀层测厚仪,如美国THermo（LXR,VXR,MXR,ZXR,GXR,XRF-4000,XRF-5000）,日本精工SII（SFT-157,SFT-3200,SFT-9200)，德国宏德(Compact eco,comapct 5pin,maxxi 5 pin)，韩国XRF-2000系列，CMI测厚仪,Fischer等。
