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Mentor Graphics PWT1500A功率循环与热测试系统
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- 品 牌：
- Mentor Graphics
- Mentor Graphics PWT1500A功率循环与热测试系统
随着IGBT等电力电子器件的功率不断增大，应用的范围也随之变得越来越广，从电机驱动、光伏逆变器，到铁路牵引、电动/混合动力汽车无不涉猎。但是电力电子器件不仅要工作在正常状态下，有时候也需要工作在极端情况下，电子电子器件的工作性能会直接影响到整个系统的工作性能，因此IGBT等电力电子器件的功率循环及热测试在整个研发、生产过程中尤为重要。
PWT1500A功率循环与热测试系统基于MicReD T3Ster瞬态热测试技术进行工业化开发和应用，提供全自动的功率循环测试，针对MOSFET、IGBT和通用的两极功率器件可以进行三个样品同时测试，每个样品最高电流可达500A，对于单个电力电子器件进行功率循环测试时，最高电流可达1500A。
PWT1500A功率循环与热测试系统支持自动功率循环及热测试，利用实测的数据对老化过程中器件出现的缺陷进行实时检测。PT1500A功率循环与热测试系统首次同时集成了自动功率循环、热测试以及结构函数分析功能，客户只需要一个平台就能够对器件进行热测试及可靠性，无需再像以往一样先进行功率循环老化，再转移到其他设备进行诊断。
PWT1500A功率循环与热测试系统能够在功率循环过程中实时监控电流（包括栅极电流）、电压以及结温等参数，同时利用结构函数分析循环过程中封装结构的改变和缺陷等。PWT1500A功率循环与热测试系统可以用于帮助客户加强以及加速封装结构研发、可靠性测试以及可靠性筛选的批量测试。
PWT1500A功率循环与热测试系统在进行功率循环的同时，可以实时提供结构函数的分析结构以显示正在发展的缺陷，循环数以及失效的原因，这样可以省去循环结束后的实验室检测。PWT1500A功率循环与热测试系统可以对多样品长时间进行功率循环测试，告别传统的先确定器件衰减发生的时间范围，再在该时间范围内进行一系列的热测试以确保获得衰减数据。（与传统的功率循环设备相比，PT1500A功率循环与热测试系统可以确保不错过任何一个器件衰减的时间点。）
利用PWT1500A功率循环与热测试系统，用户可以设计更加可靠的电子封装产品，并为其用户提供精确的可靠性数据。PWT1500A功率循环与热测试系统提供的测试及特性化数据，可以与热仿真软件FloTHERM和FloEFD结合使用，以调整和验证其热学模型。
Mentor Graphics PWT1500A功率循环与热测试系统主要特点
● 先进的测试理念：同一个测试平台可以同时进行功率循环和热测试，任何与老化降级相关的热效应都可以在不移动待测器件的情况下通过结构函数在线监测，与传统的老练设备相比更加节省时间，能获得完整的实效数据。
● 先进的测试技术：热测试设备T3Ster的热瞬态测试技术及结构函数分析方法。
● 测试范围广：测试包括功率MOSFET，功率IGBT以及功率二极管等电力电子设备。
● 简单易用的触摸屏界面：功率循环测试期间能够记录包括电流、电压、结温、结构函数以及结构改变等信息在内的参数。
● 多种功率循环模式：测试平台包含了恒定时间Ton和Toff，恒定壳温的变化ΔTC，恒定结温的变化ΔTJ以及恒定功率P等模式。
● 实时结构函数诊断：方便用户快速地获得循环过程中的缺陷，对应的循环数以及失效原因等。
● 无需功率循环后的实验室检测及破坏性失效分析：无需再使用传统的x射线、超声波或者其他的破坏性方法来进行失效分析。
● 测试操作简便：用户只需根据提示将器件对应管脚连接到设备。
