涂层测厚仪|孔铜厚度测量仪|面铜厚度测厚仪|镀层测厚仪
涂层测厚仪CMI700(镀层测厚仪)用途：
    用于磁性基材上的非磁性镀层、导性基材上的非导性镀层、磁性基材上的电镀层。
涂层测厚仪CMI700(镀层测厚仪)特征：
1、可利用扫描方法来测量不均匀的基材，这可提高得率和再现率。
2、大型液晶，高对比度显示器，可以从较远的距离可以及各个角度观察到屏幕显示的内容。
3、菜单操作界面以及软钥
4、统计结果及统计图可被显示或被打印。
5、可存放8000字节，永久存储。
6、英寸或微米的单位选择。
7、人体工学化设计。
8、有各种测试探头可供选择。
涂层测厚仪CMI700(镀层测厚仪)技术参数：
探头类型          应用范围             测量范围          测量精度
ETP                孔铜厚度测量仪            2.036～101.6μm        ±5%
SRP-4             面铜厚度测厚仪            0.762～245μm            ±3%
TRP-4           微孔孔铜厚度测量仪        2.036～101.6μm        ±5%
ECP（ECP-M） 非导电膜（绿油）厚度测量   0～1016μm            ±5%