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薄膜太阳能电池CIGS/CdTe分析仪 SMX-BEN

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    • SMX-BEN 薄膜太阳能电池CIGS/CdTe分析仪 (Solar PV thin film CIGS, silicon-free substrates) 产品特色∶ 1. 全球唯一能提供NIST等级的标准样品,与美国NREL共同合作。 2. 超大样品室,H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数,可设定多点分析,以确定制程品 质。 4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片,共5种 5. X-Y-Z三轴自动定位,轴承最长距离为8”X8”X6”,并有自动聚焦弁?/div> 6. 具有表面相对等距自动调整系统 7. 采用自然光,LED白光,无色差 8. 采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器 9. 具有防撞安全装置 10. 具有操作时辐射安全装置 11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。 基本规范: X射线发生部 电压 最大50kV,多段电压切换 电流 4-1000μA,可做自动调整设定 准直器 共五个 侦测器 Pin or Si 检测器 冷却方式 电子冷却 五种滤波器自动切换 电源 AC110~240V, 50/60 Hz 应用领域: 镀层厚度分析 (1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。 (2)分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。 (3)三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。
    深圳市仪高南仪器有限公司

    刘伟刚

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