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美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
- 美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪
产品特色∶
1. 全球唯一能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。
2. 超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品
质。
4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种
5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承最长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div>
6. 具有表面相对等距自动调整系统
7. 采用自然光，LED白光，无色差
8. 采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9. 具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
基本规格：
X射线发生部 电压 最大50kV，多段电压切换
电流 4-1000μA，可做自动调整设定
准直器 共五个
侦测器 Pin or Si
检测器 冷却方式 电子冷却
五种滤波器自动切换
电源 AC110~240V, 50/60 Hz
应用领域：
镀层厚度分析
(1)分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。
(2)分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。
(3)三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。
其它型号：
薄膜太阳能检测设备：
应用于薄膜太阳能电池CIGS及CdTe与III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析仪SMX-BEN:全球唯一能提供NIST标准样品，快速(60秒内)非破坏检测。
● 生产制程专用模块 SMX-FPV: 适合于设备商turn-key使用，直接OEM与生产制程端整合。
● 实时监测设备(In-Situ) SMX-ISI: 适用于roll to roll、真空与非真空制程腔体内检测，可耐高温至 300°C。
● 产线自动检测系统(In-Line) SMX-ILH:适用于各种制程产在线不同检测点上，可依现场Layout 做不同方式进样。
（联系电话 13068486856 0755-84444742）
http://www.eastco.hk
http://www.eastco-hk.com
桌上型成份及厚度分析仪SMX-BEN
生产制程专用模块 SMX-FPV
实时监测设备(In-Situ) SMX-ISI
产线自动检测系统(In-Line) SMX-ILH
