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产品编号：93-4755,分子式：Ag,分子量：107.87,纯度：99.95%,MDL：MFCD00003397,MP：960.5,BP：2212
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产品介绍HUSTEC-DC-2010晶体管直流参数测试系统是由我公司技术团队结合半导体功率器件测试的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完...
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主要特点频率范围:1-200MHz完整晶体测试方案DLD测量下限低至1nW符合IEC60444-11精准FL测量内置存储8通道校准数据可配8通道分路器频率微调系...
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YX-2型X射线晶体定向仪特点 此种机型为单晶衍射型普通精度定向仪,操作简便,强度较高,可用于压电晶体、光学晶体以及各种单晶晶体材料的检测。 YX...
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利用X射线衍射原理，精密快速地测定天然和人造单晶（压电晶体、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的切割角度，与切割机配备可用于上述晶体的定向切割，是精密加工制造晶体...
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高价收TEKTRONIX371A晶体管测试仪主要参数：·半导体器件高精度测量-上限达2000V或电流到10A的源（370A）-上限到3000V（371A）-上限到220W（370A）-上限到400A（...
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1.人工晶体光照稳定试验仪功能要求1.台式风冷平板式氙灯光照稳定测试仪，平板式样品放置结构，适合于标准试样板或3-D样品（曝晒面积达到30cmx28cm），适合于品控检验和...
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SC2020晶体管参数测试系统系统概述SC2020晶体管参数测试系统是我司自主研发的半导体分立器件电学参数测试的专用设备，主要用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装...
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YX-2型X射线晶体定向仪特点此种机型为单晶衍射型普通精度定向仪,操作简便,强度较高,可用于压电晶体、光学晶体以及各种单晶晶体材料的检测。YX-2型:精度±30",数字显...
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BBO（β-BaB₂O₄，即β-硼酸钡）晶体作为一种重要的非线性光学材料，在激光技术、光电子学及光学通信等领域具有广泛应用。由于其高光学性能，对清洁度的要求极为...
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晶体管参数测试仪系统&能测IGBT. Mosfet. Diode. BJT......
晶体管参数测试仪系统&能测IGBT.Mosfet.Diode.BJT......晶体管参数测试仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/...
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STI5000C/STI5300C晶体管图示仪ScientificTest,Inc，总部位于美国德州。简称STI，专注于分立元器件的测试源的开发，我们惊异地发现所使用的器件报告。每个分离元器件...
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X射线晶体定向仪包括以下几种型号原理利用X射线衍射原理，精密快速地测定天然和人造单晶（压电晶体、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的切割角度，与切割机配备可...
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晶振测试仪GDS-80系列一、产品简介晶振测试仪GDS-80系列是高性价比的晶振测试系统，采用网络分析技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围10KHz-200KH...
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晶振测试主要方法主要经历了早期的晶体阻抗计，到目前主流的网络分析仪方案。早期的晶体阻抗计检定依据为JJG(電子)05053-1995晶体阻抗计检定规程，代表产品有安捷伦HP491...
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尺寸：~1mm电学性能：金属晶体结构：六边形晶胞参数：a=b=0.246,c=0.667nm,α=β=90°,γ=120°类型：天然纯度：>99.98%表征方...
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FBSOA1000ForwardBiasSafeOperatingArea1000A晶体管正向偏置安全工作区测试系统TransistorForwardBiasSafeOperatingAreaTestSystem用于Si,S...
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鹏庆仪器销售Tektronix/TEK371B 晶体管测试仪
鹏庆仪器销售Tektronix/TEK371B晶体管测试仪东莞鹏庆电子科技有限公司联系电话：陈灵18002967282/15812893352（同微）公司网址：http://www.pq186...
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黑磷晶体BlackPhosphorus-Crystal制备方法：化学气相沉积法组成：黑磷外观：片状颗粒结构，金属般光泽宽度：毫米级长度：1厘米包装：真空硅胶管（8厘米）...
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硅光电晶体管型号 硅光电晶体管是一种电子开关和电流放大部件依赖于露于光下操作。 工作原理：当光落在结上时，反向电流流动，其与亮度成比例。光电晶体管广...
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