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X射线晶体分析仪

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    • X射线晶体定向仪包括以下几种型号 原理 利用X射线衍射原理,精密快速地测定天然和人造单晶(压电晶体、光学晶体、激光晶体、半导体晶体)的切割角度,与切割机配备可用于上述晶体的定向切割,是精密加工制造晶体器件不可缺的仪器。该仪器广泛应用于晶体材料的研究、加工、制造行业。 TYX-200型X射线晶体定向仪测量精度±30″,显示方式为数字式,较小读数为10″。 TYX-2H8型X射线晶体定向仪是在TYX-200型的基础上,改进测角仪结构,增加了承重轨道,X学管管套,支架体,样品台升高,可测量1~30公斤,2~8英寸直径样品。角度显示:数字方式,测量精度±30″。 X射线晶体定向仪特点 操作简便,不需要专业知识和熟练的技巧。数字显示角度,容易观察,减少了读数错误。显示器可在任一位置调零,便于显示晶片角度偏差值。双测角仪可同时工作,提高了效率。具有峰值放大的特殊积分器,提高了检测精度。X光管与高压电缆一体化,增加高压可靠性,探测器高压采用DC高压模块,真空吸气样品板,提高了测角精度与速度。 了解更多:http://www.tongdatek.cn/Products-37982100.html https://www.chem17.com/st598671/list_2474902.html

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