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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
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对应法规：GB/ASTM/
CNAS认可项目：是
TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）采用一次的脉冲离子源激发固体表面的原子和分子基团脱附或离化。所产生的二次离子被加速到在质谱仪中，并按照从样品到检测器的飞行时间而分离。细聚焦的离子束在样品表面扫描形成成分图。深度分布用离子束将材料表面一层层除去的同时分析该层的质谱图而构建。 欢迎来电咨询。 咨询电话：189 2932 2016；联系QQ：254755933;
深圳市美信检测技术有限公司
曾菲
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