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  • X射线光电子能谱/电子光谱化学分析仪(XPS/ESCA)

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  • 对应法规:GB,ASTM
    CNAS认可项目:是
  • X射线光电子能谱(XPS),也称为电子光谱化学分析仪(ESCA) ,用来测量定量原子组成和化学成分。 它是取样范围从表面到深度大约 50-70Å的分析技术。 或者, XPS也可用通过量化材料本体级分子进行特征化薄膜溅射深度剖面。 XPS是一种元素分析技术,提供独特的被检测元素的化学状态信息,如,测量硫元素中硫酸盐和硫化物的形式。这个过程是用单色X射线照射样品而产生散射光电子, 这些光电子释放的能量是取样范围内元素的特征。 利用这项技术在不同领域的多种应用中帮助客户研发以及发展工艺: • 测量表面成分及化学状态信息 • 描述清洁过程 • 分析粉末和碎片的主成分 • 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析,识别污染源 • 识别和量化表面变化前后聚合物的功能性检测 • 测量硬盘上的润滑剂厚度 • 为材料本体水平元素获取薄膜(导电的和非导电的)深度剖面 • 薄膜氧化物厚度测量(SiO2, Al2O3 等.)或估算两个样品氧化层厚度的不同 • 检测极限通常在~ 0.01 %,最小的分析面积是~10 µm 欢迎来电咨询。 咨询电话:189 2932 2016;联系QQ:254755933;
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曾菲

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