仪器名称：

X射线光电子能谱分析仪（XPS）

型号：

Thermo Scientific Escalab 250Xi

检测项目：

全谱、精细谱、价带谱、XPS深度蚀刻、微区成像、分峰分析

常温，变温

应用范围：

1.定性：元素种类及价态信息 X-射线光电子能谱(XPS)可以定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素;

2.定量：半定量，属于表面灵敏型测试，探测深度小于10纳米;

3.成像：元素XPS二维成像，200-800微米范围。

制样要求：

1.粉末测试需要量一般不小于0.2ml或者10mg，样品需干燥;

2.固体样品尺寸块状5*5mm，厚度尽量低于4mm，表面须平整，样品需干燥;

3.液体样须滴在铝箔或者硅片等载体上烘干形成液膜，一般重复3-5次烘干滴液差不多即可测不到基底;

4.材料必须是无放射性、无毒性、无挥发性物质(如单质Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等);

5.磁性样品(可以测试)请送样时告知;

6.元素窄谱如果有特殊要求请备注，如果没有特殊说明，默认测试最强峰，如果最强峰和其他元素的峰有重叠，默认测试次强峰。需要扫特殊峰请备注。

7.小于1%的元素可能测不出明显信号；

8.普通样品测试一般包括一个全谱和含碳的五个以内单元素精细谱；超过五个元素的按每个元素加收费用；样品不提供数据分析处理，如需要分析处理加收费用；

9.其他问题和特殊测试要求可在线沟通。