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  • X射线残余应力分析仪

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  • 对应法规:gb
    CNAS认可项目:是
  • 仪器名称:

    X射线残余应力分析仪

    型号:

    芬兰Xstress-3000型X射线应力分析仪

    检测项目:

    残余应力

    应用范围:

    测定钢铁、钛合金、铝合金等晶体材料或小构件的残余应力

    制样要求:

    块状、薄膜样品要求:测试面需标明,表面清洁平整,也可板状、片状或丝状,带基材的镀层等原始形状,不超过长4cm,宽4cm,高0.5cm,长宽最好1cm以上。

    特殊样品:对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向,衍射强度异常,需提供测试方向。

    样品上标明测试位置,测试方向及角度。

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