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  • SGS金属镀层测试服务

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  • 对应法规:库伦法 金相法 涡流法 X射线荧光法 电子探针 能谱分析仪 异物分析
    CNAS认可项目:否
  • SGS针对镀层方面提供全面的检测服务

    镀层厚度测试方法主要是库伦法,金相法,涡流测量法和X射线荧光法

    库伦法

    测量范围:0-35um误差为±10%

    精度:0.01um

    适用范围:可测量一层镀层金属厚度、多层镀层金属厚度、多层镍厚度和电位差、合金镀、塑料上各种电镀金属,表面光滑,最少有3mm²的平坦测试面

    常用测试标准:ASTM B764-04(2009)、ASTM B504-90(2011)、GB/T 4955-2005、ISO 2177-2003

    金相法

    测量范围:1-100um

    精度:0.1um

    适用范围:对样品尺寸没有太大的要求

    常用测试标准:GB/T 6462-2005、ASTM B487-1985(R2013)、ISO 1463-2003、EN ISO 1463-2004、

    JIS H8501-1999、AS 2331.1.1-2001

    涡流测量法

    测量范围:0.5-200um

    精度:0.1um

    适用范围:可测量样品涂、镀层的厚度,样品要求表面平整,测试面相当平,误差就小

    常用测试标准:GB/T 4957-2003、ASTM D7091-13                                                              

    X射线荧光XRF

    精度:0.01um

    适用范围:属于无损测量,对样品没太大要求

    常用测试标准:GB/T 16921-2005、ISO 3497-2000、DIN EN ISO 3497-2001、ASTM B568-1998(R2014)

    ASTM A754-2011、JIS H8501-1999

    镀层成分分析和样品表面污点分析

    设备名称:电子探针和光电子能谱仪联用分析

    测量精度:0.001%

    适用范围:金属及其非金属表面涂、镀层的成分分析,表面污点、异物分析

    采用精密分析设备电子探针,对各层成分金相分析,取样方式为切面法,对各层金相高倍放大进行点和面的分析,最薄的覆盖层厚度可以到0.1um,优点是其分析精度高,采样直接有代表性。

    光电子能谱仪仪和电子探针联合运用,还可以对样品表面的点分析和面分析,对比分析可以知道材料表面污染造成的原因。

     


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