厦门SGS-材料失效原因之异物分析简介

失效问题每时每刻都在发生，遍及各行各业。而失效分析是对失效构件为查明失效原因并采取预防措施而进行的一切技术活动。其相当于材料诊断学，分析人员需要在 人、机、料、法、环、测各个方向运用各种仪器和方法，对缺陷进行综合分析，查找失效原因。

SGS高分子材料实验室近期推出的失效分析项目逐渐进入到行业人士的视野。针对失效分析的复杂性和综合性，我们会连载推出失效分析项目中的模块化方法，为您揭开失效分析N宗罪之那神秘的面纱……

今天，小编先带你看看异物分析在失效分析项目中扮演了一个什么角色。

1、异物分析背景

异物，指的是混入原料或产品里的除对象物品以外的物质。异物的生成原因比较多，例如原材料不纯、反应有副产物、工艺控制不规范或工艺配方不成熟等。在生产使用过程中，产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化，或者由于生产缺陷、疏忽等原因引入和形成异物，增加产品不良率，对产品的使用性能带来极大影响。如何减少异物的引入，一直是生产行业的一大难题。

异物分析便是通过对工业生产、存储、使用过程中出现的异物杂质或未知物进行成分分析，藉此寻找和追踪异物产生的原因和来源并进而避免异物的产生。

2、应用范围

针对产品上的表面污染物、析出物等异常物质进行分析。能够快速判断异物或杂质的成分，分析其产生的原因，从而可以快速整改提升产品良率；广泛应用于高分子材料，化工产品、航空产品及其零部件、汽车产品及其零部件、电子元件产品及半导体制造业等。例如对表面嵌入或析出的颗粒物、小分子迁移物、斑点、油状物、雾状物、橡胶喷霜等异常物质进行定性分析，藉此找寻污染源或配方不相容者，是改善产品，消除生产隐患最常用的分析方法之一。

3、分析方法

异物分析从分析方法上来讲主要涉及如下三个方面，

1）异物的有机物结构分析，主要用红外显微镜-FTIR，显微红外 IR-Microscope；

2）异物或材料表面的元素成分分析，主要用扫描电镜能谱仪（SEM-EDX）、电子探针（EPMA）、多功能光电子能谱仪（XPS）、能量色散型X 射线荧光光谱仪（EDX）等；

3）是表面观察，主要用光学显微镜（OM）和电子显微镜（比如SEM）。辅

助设备 DSC,PGC-MS,前处理设备等

4、案例分享

某容器瓶内侧有白色异物析出，客户想要知道析出物具体是什么并能在将来的工艺过程中避免此问题的再次发生。

实验室经过红外分析及谱图比对先得出其主体成分为PC/PET,再结合实验室数年积累的数据配方库推测出白色异物有可能是小分子量助剂，如抗氧剂，分散剂，光稳定剂等，再通过PGC-MS，DSC等设备确定为一种紫外吸收剂UV-326。

4、送样须知

1）送样前请配合我们技术沟通了解异物的使用环境，异物的状态，存在的本体，以及有可能的来源；

2）发现异物之后应对样品做妥善保存，防止二次污染；

3）选取不易污染样品的材料或方法保存样品；

4）样品在送样过程中严禁暴露在空气中；

5）样品在送样过程中严禁用手触摸；

6）样品上需标记异物所在位置；

除了材料失效分析外，我们还能根据不同标准要求提供材料及零部件的物性、老化性能、寿命预估、重金属、邻苯二甲酸盐、PAHS等方面的全方位测试服务，欢迎来电咨询