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薄膜材料检测实验室在武汉成立

http://www.testrust.com 来源: 新华社 时间:2017-12-13

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  12月11日电在攻克纳米级薄膜材料检测的世界难题上,我国科技人员再出硕果,“功能薄膜材料物理性能检测技术湖北省工程实验室”日前在武汉成立。

  随着新材料的发展与应用,纳米级薄膜材料在许多领域中被广泛使用,国际上却没有可直接检测薄膜热特性的设备。1纳米仅为1根头发丝直径的六万分之一,如何检测薄膜的热特性成为国际难题,过去需要先把薄膜沉积得很厚,再把待测薄膜材料刮下来,形成一定质量的粉末后,才能进行破坏性检测。

  经多年技术攻坚,华中科技大学“长江学者”缪向水教授团队研发出我国首台光功率热分析仪,检测薄膜厚度可至5纳米。据介绍,光功率热分析仪是将激光照射到纳米薄膜材料表面上,通过反射光功率检测薄膜的相变温度点和热膨胀系数。

  作为国内首家功能薄膜材料物理性能检测技术研究基地,本次组建省级工程实验室后,将下设薄膜材料热分析、薄膜材料样品制备与加工、薄膜材料电磁分析、薄膜材料力学分析、薄膜材料光学分析5个垂直研究实验室。

  清华大学教授、国家重点研发计划专家组组长潘峰表示,薄膜材料是对全球科技进步的颠覆性技术,随着薄膜技术越做越薄,需要颠覆性的测试设备,科技部已设立材料基因组重大研发专项,其中一个重要任务就是攻克高通量的表征检测技术,湖北可依托薄膜检测研发的领先优势,作出更大的科学贡献。

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