用途：电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.

　　技术参数：规格型号LY-TS-42(A-C)LY-TS-80(A-C)LY-TS-150(A-C)LY-TS-225(A-C)高温槽温度范围+60℃～200℃低温槽温度范围A:( -40℃～-10℃) B: (-50℃～-10℃) C:( -60℃～-10℃)

　　试验箱冲击温度高温+60℃～200℃低温A:( -10℃～-40℃) B: (-10℃～-50℃) C:( -10℃～-60℃)升温时间RT～200℃约需35分钟降温时间RT～-70℃约需85分钟

　　冲击恢复时间高温(150℃)冲击30分钟低温(-40℃or -50℃or -60℃)冲击30分钟冲击恢复时间:5分钟以内试样重量1.5kg4 kg8 kg12 kg结构尺寸W*H*G(cm)内箱40×35×3040×50×4050×60×5050×75×60外箱140×180×145148×190×155160×200×175175×210×187结构材质内箱：SUS304#钢板 外箱：钢板喷塑 保温层：PU发泡 底座：国标角铁+槽钢冷冻系统复叠水冷式欧美原装进口全封闭或半密闭式压缩机组控制器大型LCD彩色触控人机界面控制器or单显LCD触控人机接口控制器安全保护装置无熔丝过载保护，压缩机过热、过流、超压、加热干烧、箱内超温警报系统标准配置测试孔(φ50×1只)，试料架(2组)功率(约kw)12244052

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