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薄膜纸张测厚仪

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    • 薄膜纸张测厚仪CHY-CA适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料厚度的精确测量。 薄膜纸张测厚仪的特征: 机械接触式测量方法,不受测量材料的限制,兼容ISO、ASTM 等多种测量标准 进口优质部件选择,成熟经验设计 测量精确、运行可靠,测量分辨率高达0.1微米 支持手动、自动双重测量模式 自动进样系统标准配置,试样测试长度不受限制,真正实现了自动、连续测量 自动进样间距、测量点数、进样速度等参数可调,可更好地满足用户的统计分析需求 测量数据高清晰大屏幕液晶显示,试验数据一目了然 测量过程即时显示最大值、最小值、平均值和统计偏差 设备造形美观大方新颖别致,符合人机工程学原理 标准RS232通信端口配置,可接驳计算机 专业软件配置,数据起伏曲线、偏差图 、圆形坐标图等模式显示,统计功能直观、全备 预留了网络传输接口,支持TCP/IP等协议,可实现测试数据在局域网与互联网之间的信息共享 技术参数: 测量范围:0~2mm(0~6mm可选) 分 辨 率:0.1μm 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);  标准配置 50±1kPa(纸张)  可选配置 接触面积:50mm2(薄膜); 标准配置 200mm2(纸张) 可选配置 自动进样间距:1~1000mm 自动进样速度:0.1~99.9mm/s 执行标准: GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817

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