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薄膜测厚仪

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  • 主要规格:
  • 用  途:
    •   适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

        特 征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降自动进样手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计显示最大值、最小值、平均值和统计偏差可设进样步距、测量点数、进样速度等参数标准接触面积、测量压力(非标可选)显示最大值、最小值、平均值和统计偏差标准量块标定RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输技术指标测量范围:0~2mm

        0~6mm;12mm(可选)分辨率:0.1μm测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)

        注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0~1000mm进样速度:0.1~99.9mm/s

        电 源:AC 220V 50Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)

        净 重:32kg

        标 准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

        配 置标准配置:主机、标准量块一件选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码


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