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薄膜测厚仪

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  • 品  牌:
  • 主要规格:
  • 用  途:
  • 塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
    • 测厚仪用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量的测厚仪
       
      1测厚仪特征
      接触式测量
      测头自动升降
      手动、自动双重测量模式
      数据实时显示、自动统计、打印
      显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
      标准接触面积、测量压力(非标可选)
      标准量块标定
      2测厚仪技术指标
      测量范围:02mm(常规)
                06mm12mm(可选)
      率:0.1μm
      测量速度:10/min(可调)
      测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
      接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)       

      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

      3测厚仪标准

      GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817
      4测厚仪配置
      标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
      件:测厚仪专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
    济南兰光机电技术有限公司(上海)代表处

    陈涛

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