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薄膜厚度测定仪

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    • CHY-C2薄膜厚度测定仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。 薄膜厚度测定仪的特征: 机械接触式测量方法,不受测量材料的限制 进口优质传感器,测量分辨率高达0.1微米 进口优质传动元件,保证了试验结果的稳定性、准确性 测量头对薄膜(纸张)的接触面积、接触压力严格遵循相关标准 特殊结构设计,保证上下测量平面的平行 灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量,非标试验易于实现 试验数据大屏幕液晶显示,操作按键人性化设计 可设置手动、自动两种试验模式,测量结果自动统计、打印 具有电脑通信接口 兼容ISO、ASTM等多种测量标准 薄膜厚度测定仪技术指标: 测量范围:0~2mm(常规)(0~6mm可选) 分 辨 率:0.1μm 测量速度:10次/min(可调) 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);〔50±1kPa(纸张)〕 接触面积:50mm2(薄膜);〔200mm2(纸张)〕 薄膜厚度测定仪执行标准: GB6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASMTD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 Labthink广州发布,电话:020-81095968,传真:020-81093749,手机:13631382021
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    郭思嘉

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