膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

        深圳膜厚测试仪用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费

         技术参数：

         可测元素：Ti～U

　　X射线管：管电压45KV，管电流1mA

　　检测器：比例计数管

　　样品观察：CCD摄像机

　　对焦方式：激光自动对焦

　　测定软件：薄膜FP法、检量线法

　　准直器：2个（0.1mm，0.025*0.3mm）

　　安全机能：测量室门自锁功能

　　Z轴防冲撞功能

　　仪器自诊断功能

　　主要特点

　　★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。

　　★ 具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量

　　★ 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防

　　止在对焦时造成的损坏。

　　★ 选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。

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