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LC-V型/LC-S型LED芯片颗粒计数仪分析系统
- LC-V型/LC-S型LED芯片颗粒计数仪分析系统
该套仪器整合了高清晰度数字技术来鉴别最困难的计数问题。该LED芯片专用计数仪通过高速的图像获取及视觉识别处理，准确、快速地计数LED芯片，操作简单，使用方便。用于LED芯片外延片面积测试，同样也适用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等抛光片外延片的面积测试。
该仪器包括新型的照明配置，以确保均匀一致的照明和LED目标增强。软件能在数据库中储存每次计数分析的结果，以便于打印或追溯对比分析。LC-V型为拍照成像型的优点是成像速度快（<1秒），缺点是成像的背光没扫描成像型的均匀，分析正确率略低于扫描成像型的；而LC-S型为扫描成像型的优点是成像的背光非常均匀，分析正确率高，缺点是600dpi成像2个4"（扩完片150mm直径）的大圆片约需耗时30~60秒，对微机的性能要求更高。
最新产品资料、图像、实战操作视频可从http://www.wseen.com的网站下载。
性能参数：
1．成像特性
镜头：4.5～10mm可变焦、F1.6、1/2”C接口的高保真光学镜头(LC-V型)
CMOS规格：500万像素(LC-V型)，真彩
像素分辨率：LC-V型150mm/1944像素=0.077mm。LC-S型为216mm/4800像素=0.045mm
图像拍摄：手动对焦，可专业级地精细成像在任意LED芯片平面上（LC-V型）
图像调整：具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能，调整值自动记忆保存
图像观察：具有任意放大、缩小、局部观察功能
2．无影光源（LC-V型）：
创新的无影光源（专利号：ZL 2006 2 0140184.2），具有立体背光模式的无影照明成像方式，可确保均匀一致的照明和最佳LED芯片成像
3．检测统计：
全自动LED芯片计数：可计数红、绿、蓝等各色LED芯片总数，显示和输出计数结果
适用芯片尺寸：可计数分析和定位的不透明LED芯片≥5mil (或0.127mm)，11×11、10×10、9×9、8×8、7×7、5×5mil×mil均可用。
计数速度：6～20万LED芯片/秒
计数误差≤0.1‰
最大芯片计数量≥20万pcs
计数准确、快速，全程电脑控制，高效，准确，方便，只点一下即完成全部计数。
实测2"圆片，计数6.46万粒LED芯片的耗时为0.219秒，能精确分析计数局部粘连在一起的芯片，手工修正率≤0.01%，批量检测每小时最快可达计数720个组板（LC-S型优点是按600dpi成像计数8张直径2寸圆片（扩完片后为80mm直径），或2个4寸大圆片（扩完片后为150mm直径），或任何形状的碎片面积进行测试）
简便易用：真正一键式操作，鼠标一点，结果即现。软件界面友好，提供帮助功能
辅助删补：用鼠标选择增加/删除，或直接用鼠标在屏上手工计数，以确保100%正确
形态分析：分析全部芯片的直径、面积、间距波动等形态信息
目标区的个性化计数区：对视野工作区预选直径范围或矩形范围内的LED芯片计数
4．数据库功能：
可进行产量统计，预留数据输出接口，全面兼容EXCEL、ACCESS、SQL等数据库软件
存储：分析图像和分析结果可数据库存储，或导出为PDF、WORD文件、Excel表格，以便于进一步分析
查询：按编号、操作者、备注字段自动搜索查询，图像与全部统计数据重新显示
5．报表打印：
可快速生成PDF、WORD和EXCEL格式的专业计数报告：彩色图像、芯片组ID号、计数结果数据表、参数配置、使用者和日期时间在报告中自动生成
在线编辑：具有对统计结果构成报表的在线编辑功能
报表打印：图像、计数结果和编辑内容等全部结果信息
6．仪器规格与配置
适用视野工作区尺寸：30～150mm
配套设备：LC-V型为自动计数仪1台（包含立体背光模式的漫反射色无影照明部件1套、透明玻片2块等）；LC-S型为高清晰扫描仪1台。LC系列用户手册1本，软件系统光盘1张。（计算机需另配，内存≥2GB）
仪器总尺寸、总重量：宽×深×高=26cm×24cm×38cm，～7Kg
