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LA-S型植物年轮分析系统
- 用 途：
- LA-S型植物年轮分析仪系统用于对磨平抛光的植物年轮全盘、木芯进行多参数快速分析。
- LA-S型植物年轮分析系统 LA-S型植物年轮分析系统至少具备以下功能： 植物年轮测量分析： 1)可自动判读年轮数 2)各年轮平均宽度 3)早材及晚材宽度 4)各年轮切向角度和面积 5)可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮 6)可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力 7)具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性，以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性，对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑，以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性，画路径的时候可【取消】(右键菜单点【取消】或直接按【Del删除】键) 8)可直接分析最大达到2万万像素(2亿像素)的超高精度扫描的超大幅面年轮图像(能分析在3200dpi分辨率下，成像分析430mm×30mm区域的年轮灰度图像(A3扫描仪)，精度远高于目前常用的1600dpi分辨率)。具有对年轮宽度 9)可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像 人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计。 3.自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。 4.辅助测量功能： 尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正； 长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量； 5.数据报表导出：分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用。 LA-S型植物年轮分析系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，最大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面(35.6 cm×21.6 cm)，扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的最小尺寸0.008×0.008 mm。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定，可软件部分校正)：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差 最新产品资料、图像、实战操作视频可从www.wseen.com的网站下载。
