EXF7200型测金仪,测金机 联系:13500066452 张经理　　 　　技术指标： 　　分析范围：10％～99.99％ 　　测量时间：自适应30～50秒 　　测量精度：±0.1％ 　　测试环境：常温常态 　　可分析元素：金（Au），银（AG），铂（PT），钯（Pd），铜（Cu），铑（Rh），钌（Ru），锌（Zn），镍（Ni），镉（CD），根据元素能量表可观察以上出各元素的图谱。 　　 　　X射线源：X射线光管（风冷无辐射） 　　测量点尺寸：1～2mm 　　高压器：4～50Kv 　　分析：多通道模拟 　　电压：100～127或200～240V，50／60Hz 　　尺寸：500＊500＊350mm（最大处） 　　重量：35kg 　　操作系统：Windows2000／XP 　　 　　镀层测量： 　　镀层厚度范围＜30μm 　　最大测量层数：5层 　　测量精度：0.03μm 　　 　　仪器配置： 　　X光管 　　正比计数探测器 　　高压电源 　　放大电路 　　液晶显示屏幕 　　摄像定位系统 　　 　　产品特点： 　　 　　1）仪器性价比高 　　承诺，本公司各款测金仪价格，绝对低于市场上任何一款同类产品的价格。本产品采用先进技术成果，提高了性能，节省了成本。 　　 　　2）测量元素全面，涵盖贵金属行业补口数据库 　　能够测量：金Au（包括K金），铂金PT，白银AG，钯金Pd，铑Rh，铜Cu，锌Zn，镍Ni，钨W等金属元素。 　　 　　3）快速定性定量判断 　　1～3秒可以对首饰做定性判断，30秒检测出精确结果。最高精确度可以达到0.1％，风冷散热循环系统，稳定，重现指标高。 　　 　　4）率先将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域 　　该摄像定位系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将首饰被检测到的精确位置的图片信息，连同计算报告一起打印出来。 　　 　　5）售后服务遵循仪器仪表国家规定 　　产品实行国家仪器仪表“三包”，一年保修，三月包换，终生维护，终生免费软件升级。