产品简介:CMI980系列能够执行膜厚量测及元素分析。使用高解析度检测器提高元素量测之精度及膜厚量测之准确度，使用小准直器对於小点可以进行元素分析，也可对於产品进行扫描後显示有害元素的组成及含量分布图。

　　适用产业:用於电子元件、半导体、PCB印刷电路板、汽车零件、功能性电镀、连接器、装饰

　　X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。100瓦X射线管25mm2PIN探测器多准直器配置扫描分析及元素分布成像功能灵活运用多种分析模型清晰显示样品合格/不合格超大样品舱同时分析元素含量和镀层厚度

　　应用

　　-RoHS/WEEE-有害元素痕量分析-焊料合金成分分析和镀层厚度测量-电子产品中金和钯镀层的厚度测量-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量-贵金属合金分析和牌号鉴定