产品名称：X射线荧光光谱仪X-RAY XDVM-W产品型号：X-RAY XDVM-W

　　产品用途：测量涂镀层厚度及材料

　　产品类别：涂镀层测量仪

　　产品代码：005

　　产品说明

　　仪器介绍：德国FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。材料分析和镀层厚度测量，范围从铝(Z=13)到铀(Z=92)详细信息：德国FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。独一无二的WinFTM®V.3或WinFTM V.6软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析(使用WinFTM®V.6软件)。

　　典型的应用范围如下：单一镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等；二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金等；三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金等；双镀层：例如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等；双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe；最多24种镀层(使用WinFTM V.6软件)；应用范围:材料分析和镀层厚度测量，范围从铝(Z=13)到铀(Z=92)特点:操作容易、快速、手动定位样品。配备多种准直器，确保有高强度讯号。标准软件WinFTM®V.6；PDM测量方向由下而上X射线管微焦距；可加Ni和Al滤片；可编程节能功准直器4个圆形准直器；0.2mm/0.6mm/1mm/2mm软件控制，马达调节0.3mm最小测量面积有效对焦范围2mmXY移动范围不适用Z-轴不适用，光学对焦；可至测量台上2mm距离测量室尺寸320mm×460mm×90mm测量室大容量，配备固定及可更换的样品支架对焦方式利用旋钮视觉对焦放大倍数光学：34-46×；数字：分级放大1、2、3、4× 总倍数：34-184× 厦门鑫博特科技有限公司销售热线：0592-3109941 3109938 3109939传真：0592-3109936www.xmxbt.com　　　　　 E-mail：xbt-xm@163.com 　　　　地址：福建省厦门市湖里区创业园创业大厦622单元 邮编：361009

　　注：我公司主要生产和销售涡流导电仪,金属电导率测量仪,电导率测量仪,数字金属电导率测量仪,仪器仪表,无损测量仪, D60K金属电导率测量仪,涂镀层测量仪,硬度测量仪,厚度测量仪,涂镀层测厚仪,探头微硬度测量仪,电导率仪