【Axioskop 40 Pol】Zeiss显微镜
-- 卡尔蔡司研究级偏光显微镜 应用领域 地质学,矿物学,结晶学,磁性材料,陶瓷/玻璃,高分子材料,纺织学,法医鉴定等行业的偏光研究及日常实验室应用。 一、产品描述: Axioskop 40 Pol的技术特点 1. 线形或环形,两种类型的偏光 线偏光只能从一个特定方向看到样品结构,而环偏光可以在不转动载物台的情况下,看到各个方向的图象,有利于对岩石薄层进行彩色照相,而且有利于通过图象分析检测塑料结构或玻璃的应力。 2 .C-DIC:高反差的独创技术 Axioskop 40 Pol的首创技术:C-DIC ,适用于EC Epiplan-Neofluars物镜;使用方便,可以通过简单地调节旋钮来获得固定图像片段的最佳反差。 3. 无接触测量:新型反射光干涉仪TIC 环行双光束干涉仪能够测量物体的表面构造和粗糙度,测量范围50到5000纳米,适用于各种倍率的物镜。 4. 磁性材料专用模块 磁性材料在新型材料和数据存储设备中有着日益增长的重要性,在显微镜观察中,通过克尔效应成像,第一次在蔡司显微镜上得以实现。 二、技术参数: 1、物镜倍数:5X 10X 20X 40X 50X 63X 100X 可选1.25X 2.5X 150X 2、目镜倍数:10X/ 3、物镜转盘:6孔 4、观察功能: 透射光: 偏光、正交偏光、锥光、明场、暗场、相衬、DIC 反射光:偏光、明场、暗场、DIC、C-DIC、荧光 5、可扩展性:可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件) 6、可配冷热台 7、可配显微分光光度计 厂家:德国蔡司(Zeiss Jena)光学 显微镜价格:请来电咨询 Carl Zeiss 中国 广东 深圳 显微镜销售代理 联系方式 深圳市九天实业发展有限公司 手 机:13148751587 王经理 电 话:(0755)25845996 传 真:(0755)25845977 邮 箱:ko-feng@163.com 公司网址:http://www.epdp.cn 地 址:深圳市福田区八卦三路荣生大厦308室