检测认证人脉交流通讯录
- 产品介绍
立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
特点：
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。
2. Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。
3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。
项目 技术指标
二次电子分辨率 0.4nm （加速电压30kV，放大倍率80万倍）
1.2nm （加速电压1kV，放大倍率25万倍）
STEM分辨率 0.34nm（加速电压30kV，晶格象）
观测倍率 底片输出 显示器输出
LM模式 80~10,000x 220~25,000x
HM模式 800~3,000,000x 2,200~8,000,000x
样品台 侧插式样品杆
样品移动行程 X ±4.0mm
Y ±2.0mm
Z ±0.3mm
T ±40度
标准样品台 平面样品台：5.0mm×9.5mm×3.5mmH
截面样品台：2.0mm×6.0mm×5.0mmH
专用样品台 截面样品台：2.0mm×12.0mm×6.0mmH
双倾截面样品台：0.8mm×8.5mm×3.5mmH
信号检测器 二次电子探测器
TOP 探测器（选配）
BF/DF 双STEM探测器（选配）
苏州科帝斯怀特工业设备有限公司
廖映成
- 地址：
- 苏州工业园区唯亭镇金陵西路288号3幢205室
