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镀层膜厚仪

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    • (一)iEDX-150WT X射线镀层膜厚仪产品优势 1. 镀层检测,最多镀层检测可达 5 层,精度及稳定性高。 2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达 110*110*5mm。(固定台可选) 3. 激光定位和自动多点测量功能。 4. 可检测固体、粉末状态材料。 5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。 6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。 7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结 果。 8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。 9. 软件终身免费升级。 10. 无损检测,一次性购买标样可长期使用。 11. 使用安心无忧,售后服务响应时间 24H 以内,提供全方位保姆式服务。 (二)iEDX-150WT X射线镀层膜厚仪配置及技术指标 1. X 射线管:高稳定性 X 光光管,微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶 铍窗口, 阳极焦斑尺寸 75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。 50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。 2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin) 能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) 3. 滤光片/可选 初级滤光片:Al滤光片,自动切换 7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
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    胡谢非

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