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CMI700测厚仪(膜厚仪)

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    • CMI700测厚仪(膜厚仪) 适用范围: 1、磁性基材上的非磁性镀层 2、导性基材上的非导性镀层 3、磁性基材上的电镀层 4、所有基材和各种表层的厚度测量 技术参数: 测量方法:磁感应或涡流式 测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片 测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) 分 辨 率:0.01mils(0.25μm) 适用标准:磁感应遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360 and BS 5411PART3有关规定 存 储 量:12,400条读数 低铁和无铁层厚度:12 mils(305μm) 尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含电池) 单 位:英制和公制,可转换 电 池:9伏干电池或充电电池 统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,最高值,最低值,由打印机或连续输出支 持的直方图和CPK图 接 口:RS-232串行输出端口,用于下载到打印机或计算机 打 印 机:任意竖式热感打印机 显 示:1/2英寸背光液晶显示屏 键 区:密封膜。基本-9键;增强-16键 扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值)

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