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多参数根系扫描仪 根系测定仪 根长检测仪 根系分析仪 根系系统分析仪
- 产品型号：LC-4800
所 在 地：上海
产品描述：
报价：108000元
一、 用途：
LC-4800多参数根系分析系统是一套用于植物根系全面分析的多参数根系图像扫描分析系统，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，广泛运用于根系形态和构造研究。
二、 分析原理：
LC-4800多参数根系分析系统是利用高质量图形扫描系统提供高分辨率的彩色图像或黑白图像，该扫描系统匹配专门的双光源照明系统，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效的保证了图像的质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等参量。
三、 技术参数及指标：
1）测量分辨率：0.02mm²；
测量总时间：60秒
2）数据存储：图像和测量结果以数据库存储(通过PC)；数据可导入电脑；测定结果以Excel表和Word文件；
3）自带标定功能，可实现半自动的尺寸标定及全自动的亮度标定；数据处理：
4）测量最大宽度：22cm
5）图像格式：MSP BMP TIF PCX；
6）品牌：加拿大LEGENTSYS-SINTEK
7）分析速度：根长为25KB/S，根尖记数为10KB/S，扫描速度：>400dpi时22秒，预扫描3秒。
8) 测量参数：
①根总长；
②根平均直径；
③根总面积；
④根总体积；
⑤根尖计数；
⑥分叉计数；
⑦交叠计数；
等等可选功能
9） 重量：主机LC-4800净重约6公斤。
10）软件：友好界面，采用Windows操作系统，操作简单易学。
11) 配置：多参数根系分析系统(1no)，SINTEK专用安装光盘(1no)，LC-4800根系图像分析软件(1no)，下载数据线(1no)，电源线(1no)，仪器US防盗棒(1no)，操作说明书(1no)，出库单(1no)。
