检测认证人脉交流通讯录
- 一 、特点：
LW200-4LJT拥有复消系统，超平场的光学系统，在观察是成像更清晰，本仪器除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由带有透反射照明系统，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。另外外置摄相系统可以方便的连接视屏和计算机进行实时和静动态的图像观察、保存和编辑、打印结合各种软件能进行更专业的金相、测量、互动教学领域的需要。
二、主要技术参数：
镜筒：B双目/T三目，30度倾斜，360度旋转
超平场目镜：EWP10Xф20mm
无穷远物镜：PLAN4X，PLAN10X，PLAN20X（S），PLAN40X（S），PLAN50X（S）
放大总倍数：40X-1000X
载物台：尺寸160mmX140mm ，移动范围75mmX50mm
调焦：粗微动同轴，升降范围20mm，微动格值0.002mm
聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25，孔径光阑，滤色片座
光源：透反射柯勒照明，透射照明卤素灯12V20W，反射照明卤素灯12V50W，亮度可调
正交偏振装置
