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镀层测厚仪

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  • 品  牌:
  • 主要规格:
  • CMI900
  • 用  途:
  • 镀层测厚
    • 仪器介绍 CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。 主要特点样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 全球服务及支持
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    单光辉

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