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高分辨率波前分析仪 昊量供 高分辨率波前分析仪价格
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高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器
400X300高分辨率、500um高动态范围、高性价比、同时检测波前与M^2波前传感器!
关键词:波前传感器、波前分析仪、波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!PHASICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。
法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。
图1 波前校正前与校正后对比
PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。
第一部 产品介绍
SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器
PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测等)。
特点:
u 高分辨率(250x250)
u 通光孔径大(8.0mmx8.0mm)
u 覆盖紫外光谱
u 灵敏度高(0.5um)
u 优化信噪比
图2 SID4-UV波前分析仪
SID4 波前传感器
可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布,波前像差,激光的M2,泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。
特点:
Ø 波长范围:400-1100nm
Ø 分辨率高(160x120)
Ø 消色差
Ø 测量稳定性高
Ø 对震动不敏感
Ø 操作简单
Ø 结构紧凑,体积小
Ø 可用笔记本电脑控制
图3 SID4位相检测
具体图片请参见官网
SID4-HR 波前相差仪
可用于检测各种透镜,光学系统的检测,可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像:传函仪、干涉仪,具有操作简便,测量精度高,参数输出方便等优点,正在被越来越多的客户推崇。
特点:
u 波长范围:400-1100nm
u 高性能的相机,信噪比高
u 实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)
u 曝光时间极短,保证动态物体测量
u 操作简单
图4 SID4-HR
具体图片请参见官网
图5 SID4-HR传递函数检测
SID4 NIR 波前分析仪
主要针对1550 nm(1.5um-1.6um)激光的检测,具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。
特点:
² 高分辨率(160x120)
² 快速测量
² 性价比高
² **测量
² 对振动不敏感
图6 SID4 NIR激光波前检测
SID4 DWIR 波前仪
具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um和8-14um的波前位相,强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。
特点:
u 光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和**视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。
u 光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等
u 高分辨率(96x72)
u 可实现**测量
u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量,无需额外中转透镜
u 快速测量 对振动不敏感
u 可实现离轴测量
u 性价比高
SID4产品型号参数汇总
型号
第二部 控制软件
第三部 与传统哈特曼波前分析仪比较
具体详情请参见官网
与传统哈特曼波前传感器测量结果对比:
具体详情请参见官网
技术参数对比:
第四部 应用领域
Ø 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测
Ø 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测
Ø 红外、近红外探测
Ø 平行光管/望远镜系统的检测与装调
Ø 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域
Ø 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)
Ø 虹膜定位像差引导
Ø 大口径高精度光学元器件检测
Ø 激光通信领域
Ø 航空航天领域
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