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布鲁克手持式矿石分析仪

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    • 快速、高效、准确;探矿、找矿、评估的最理想工具。 测量范围(Mg-U) Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd, Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。 测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿 例如:铁矿、铜矿、锌矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、钴矿、镍矿、铅矿、钼矿、镁矿、铝矿、 银矿、金矿、铂矿、硫矿、砷矿、硒矿等 主要应用 主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿; 还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。 对不规则或很小的样品都能快速完成识别测试。 主要特性: 简体中文界面 Windows Mobile5.0操作系统 开机后不需校准就可直接测量 采用布鲁克专利技术的XFlash®SDD检测器 分析元素最小从Mg开始,达40多种。 分析范围:ppm级至50%以上(与矿样种类有关) 实时分析数据和图谱显示 XRF软件具有定性、定量分析功能,控制光管的电压和电流,使测量范围更广 测量完全无损,不受样品形状限制 仪器自动校准,自动存储测量数据,无需人工干预 主机一体化设计,高强度密封,防水、防尘,抗冲击 可选择一键式定时测量 内置Bruker专业操作软件,计算和显示速度快 仪器适应高温,低温,潮湿,雨天、沙尘等恶劣环境 在开机状态下长时间不测量时,仪器会自动进入待机状态,以节省电源和保护仪器 X射线管耐用性强,采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命 选配GPS定位系统,可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图 万能FP模式,适于各种矿石样品,大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。 免费软件升级 对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析 野外操作时,自由携带,非常方便 技术规格 重量 1.5kg 尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) 激发源 X射线管,Ag靶,40kV 检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快; 能量分辨率高:145eV, 计数率:250kcps  冷却系统 Peltier半导体冷却系统 电源 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时 工作条件 温度:-20℃~+55℃  湿度:0~95% 电池充电器 交流充电器:110/220V,50/60Hz 计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏 数据传输 USB,无线蓝牙,SD卡 数据存储 主机:512MB 存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据 热表面适配器 热表面适配器,可测量500℃高温样品 安全 密码保护,设有多级安全锁 运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱 支持语言 包括中、英文在内12种语言(用户自选) 质保期 获得认证 整机2年,终身维护、保养、维修 CE、TUV、IECEE、ISO9001

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